芯片表面缺陷检测,IC芯片定位组装,IC芯片表面多胶脏污视觉检测
视觉检测系统:
定位IC元件以及烧录盘,然后把IC元件放入烧录盘,可以更加清晰突显出IC和烧录盘的外观轮廓,从而达到精准定位目的。
检测漏铜,电镀后溢料,划伤,引脚弯曲,引脚毛刺,搭锡等缺陷。未电镀前检测溢料,银浆脏污,碎角,引脚塌陷等。
检测单个IC元件表面脏污、多胶视觉检测系统
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