SPI锡膏测厚仪视觉
锡膏测厚仪,用于测量PCB板上锡膏的厚度、长度、体积、截面积等,统计分析以进行工艺控制。系统利用结构光配合相机,相机与结构光发射器的安装成一定的角度,通过结构光条纹的周期性变化,利用PCB板上锡膏的成像位置变化的范围,利用三角测量法得到锡膏高度信息,通常可精确到μm级。通过XY平台移动配合结构光密集扫描获得整个PCB板上锡膏的3D信息。
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1、 通过结构光与成像器件的配合获得SMT表面器件的高度信息;
2、使用专业SPI软件进行PCB上锡膏三维成像,完成SMT板器件三维数据分析,对多/少锡、漏印、锡膏拉尖、桥联、偏移、 异 \形、脏污等缺陷进行判断;
3、通过SPC功能达到数据可追溯性。
