IC外观缺陷检测系统正反检测，零件批号、字符检，以及IC针脚外观缺陷

IC测试及包装设计全过程中，电子器件的检测是一个不可或缺的阶段。传统式的产品工件检测主要是根据人工鉴别，消耗了许多的人工成本费，而且防止不了的是人的眼睛的疲惫检测，给产品品质添加了许多不确定因素。视觉系统系统根据一系列的优化算法，可以完成产品工件的正反面检测，零件生产批号、字符检，及其IC针角外型缺点。IC外型检测系统既可确保可靠性高，又可以确保商品检测的一致性，进一步提高了厂子的生产率，节约了人工。　　系统作用　　1.检测料带凹模内是不是存有IC；　　2.检测料带内IC 是不是弄反；　　3.载入IC表面字符是不是与设定字符一致，而且按照不一样結果对元器件去除；　　4.检测IC针角是不是变型或残缺不全；　　5.系统检测速率<=0.1秒/pcs（依据不一样配备计划方案而定）;

　　系统基本原理　　本系统根据图象系统全自动对视线范畴内的IC芯片开展找寻事先设定的特点，再根据系统优化算法测算IC的方位、字符特点及其规格和表面是不是有缺陷等，并开展相应的分辨得出結果。本系统全自动检测IC表面特点，载入IC表面的字符并与设定字符串开展核对、分辨，得出結果并完成相对应的数据分析。