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IC外观缺陷检测系统正反检测,零件批号、字符检,以及IC针脚外观缺陷

IC外观缺陷正反检测零件批号字符检测IC针脚外观缺陷

作者:IC外观缺陷检测系统正反检测,零件批号、字符检,以及IC针脚外观缺陷浏览数:14 

IC测试及包装设计全过程中,电子器件的检测是一个不可或缺的阶段。传统式的产品工件检测主要是根据人工鉴别,消耗了许多的人工成本费,而且防止不了的是人的眼睛的疲惫检测,给产品品质添加了许多不确定因素。视觉系统系统根据一系列的优化算法,可以完成产品工件的正反面检测,零件生产批号、字符检,及其IC针角外型缺点。IC外型检测系统既可确保可靠性高,又可以确保商品检测的一致性,进一步提高了厂子的生产率,节约了人工。  系统作用  1.检测料带凹模内是不是存有IC;  2.检测料带内IC 是不是弄反;  3.载入IC表面字符是不是与设定字符一致,而且按照不一样結果对元器件去除;  4.检测IC针角是不是变型或残缺不全;  5.系统检测速率<=0.1秒/pcs(依据不一样配备计划方案而定);

  系统基本原理  本系统根据图象系统全自动对视线范畴内的IC芯片开展找寻事先设定的特点,再根据系统优化算法测算IC的方位、字符特点及其规格和表面是不是有缺陷等,并开展相应的分辨得出結果。本系统全自动检测IC表面特点,载入IC表面的字符并与设定字符串开展核对、分辨,得出結果并完成相对应的数据分析。

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