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工业相机
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视觉检测IC载带有无漏,小芯片IC激光打标检测,IC芯片托盘定位缺陷检测 
规格: IC芯片视觉检测
品牌: 料盘IC方向检测缺陷检测
产品详情

                          视觉检测IC载带有无漏,小芯片IC激光打标检测

                                     IC芯片托盘定位缺陷检测

                             

   

     

 用于检测载带中芯片的有无,正反,引脚异常(缺引脚,变形,引脚间间距不合格)及表面字符及丝印的检测。
  该系统采用高速的数字相机和LED特殊照明方式,利用软件的定位,匹配及测量功能对被测产品进行检测。检测内容包括尺寸、引脚缺陷及丝印缺陷。该系统体积小,可以方便地集成到现有的设备之中。

该系统同样适合于电容,电阻,二极管等元器件的检测

              

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