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视觉检测IC载带有无漏,小芯片IC激光打标检测,IC芯片托盘定位缺陷检测

规格：	IC芯片视觉检测
品牌：	料盘IC方向检测缺陷检测

产品详情

视觉检测IC载带有无漏,小芯片IC激光打标检测

IC芯片托盘定位缺陷检测

　用于检测载带中芯片的有无，正反，引脚异常（缺引脚，变形，引脚间间距不合格）及表面字符及丝印的检测。

　　该系统采用高速的数字相机和LED特殊照明方式，利用软件的定位，匹配及测量功能对被测产品进行检测。检测内容包括尺寸、引脚缺陷及丝印缺陷。该系统体积小，可以方便地集成到现有的设备之中。

该系统同样适合于电容，电阻，二极管等元器件的检测

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